Серия Q250/Q750CA

Q250/Q750CA

 

Q250 CA

Q750 CA

Диапазон тестовой нагрузки

0,5 — 250 кг  (4,9 — 2450 Н)

3 — 750 кг  (29,4 — 7358 Н)

Тестовая высота /глубина горловины

215/260 мм

215/260 мм

Регулировка по высоте

Поворотное колесо на шпинделе с направляющими на безлюфтовых подшипниках, вкл. устройство фиксации положения

Программное обеспечение

Qpix CONTROL

Предметный стол

координатный моторизованный 170 x 250 мм

Перемещение стола X/Y

260 x 166 мм

Вес основной машины

180 кг

180 кг

Макс. вес образца

100 кг

Электропитание

230~1/N/PE, 110~1/N/PE

Максимальная потребляемая мощность

~ 360 Вт

Аксессуары / Опции:
Общее

Объективы (2,5x, 4x, 10x, 20x, 40x), индентор (Виккерс, Роквелл, Бринелль), поворотный или фиксированный вертикальный держатель, предметные столики, стол под твердомер

Револьверная головка

6-позиционная, моторизованная (уменьшает тестовую высоту на 30 мм)

координатным столом и специальными решениями

 

  • Автоматизированные измерения с помощью электронной системы приложения нагрузки в следующих диапазонах:
  • Q250CA: 0,5 — 250 кгс
  • Q750CA: 3 — 750 кгс
  • Регулировка высоты с помощью поворотного колеса на шпинделе с направляющими на безлюфтовых подшипниках, вкл. устройство фиксации положения.
  • Полностью автоматический координатный стол с высоко-прецизионным приводом позиционирования.
  • Автоматическая регулировка яркости подсветки в зависимости от материала и поверхности образца.
  • Инновационный метод анализа отпечатка через встроенный микроскоп с модулем отраженного света (только для метода HBW10/3000).

Скачать брошюру Q250/750CA