Серия Q250/Q750/Q3000

Q250M, Q750M, Q3000M, Q250E, Q750E, Q3000EQ250MS Q750MS Q3000MS
Q3000EQ3000MQ300MSQ750EQ750MQ750MSQ250EQ250MQ250MS
Диапазон тестовой нагрузки

10 -3000 кг

(98 — 29430 Н)

3 -750 кг

 (29,4 — 7358 Н)

0,5 -250 кг

(4,9 — 2450 Н)

Регулировка высоты

Асинхрон-ный электро двигатель

Ручной привод

Асинхрон-

ный электро двигатель

Ручной привод

Асинхрон-

ный электро двигатель

Ручной привод

Предметный стол

540×360 мм

540×360 мм

400×360 мм

540×360 мм

540×360 мм

400×360 мм

540×360 мм

540×360 мм

400×360 мм

Тестовая высота *

450 мм

450 мм

230 мм

450 мм

450 мм

230 мм

450 мм

450 мм

230 мм

Максимальная масса заготовки

300 кг

300 кг

300 кг

300 кг

300 кг

300 кг

300 кг

300 кг

300 кг

Масса основного прибора

400 кг

380 кг

280 кг

400 кг

230 кг

170 кг

250 кг

230 кг

170 кг

Ниже приведены отличительные особенности стандартных моделей твердомеров Qness Q250/Q750/Q3000:

Твердомеры Бринелля серии Q250/Q750/Q3000

  • Автоматизированные измерения с помощью электронной системы приложения нагрузки в следующих диапазонах:
  • Q250: 0,5 — 250 кгс
  • Q750: 3 — 750 кгс
  • Q3000: 10 — 3000 кгс
  • Удобный, понятный и дружелюбный пользовательский интерфейс и 12” сенсорный дисплей обеспечивают комфортную работу с высокой производительностью.
  • Автоматизированный и ручной анализ отпечатка.
  • Автоматическая регулировка подсветки.
  • Дополнительное кольцевое освещение для темного поля (опция).
  • Регулировка тестовой высоты за счет перемещения блока нагружения по оси Z, позволяет удобно работать на большом столе с тяжелыми и крупногабаритными образцами.
  • Запатентованное автоматическое распознавание образца (версия E), переключение скорости перемещения.
  • Поворотный прижим для измерений в труднодоступных местах образцов сложной конфигурации (патент).
  • Электронная 6-позиционная револьверная головка для экономии времени при частой смене методов измерений (опция).
  • Опция – управление с внешнего персонального компьютера, ПО QpixControl M.
  • Инновационный метод анализа отпечатка через встроенный микроскоп с модулем отраженного света (только для метода HBW10/3000).

Скачать брошюру Q250/750/3000

Инновационный метод Qness для анализа отпечатка через встроенный микроскоп с модулем отраженного света

Для мягких материалов с твердостью до примерно 250 единиц HB при тестах по методу НВ 10/3000 искажения (выпуклости) всегда очень значительны по краям. Правильная идентификация диаметра отпечатка с помощью камеры и объектива затруднена (левый рисунок) и может привести к погрешности измерений до 10 единиц по Бринеллю.

С помощью дополнительного кольцевого освещения, которое может быть использовано при измерении твердости материалов до примерно 250 HB, многие производители уже реализовали данный механизм коррекции, в том числе Qness.

Новейшее решение с использованием микроскопа с модулем отраженного света вместо простого объектива, разработанное компанией Qness, позволит значительно точнее производить оценку отпечатка в будущем.

Данное решение может быть использовано для более широкого диапазона материалов различной  твердости (100-650 HB) и является важной вехой в развитии систем оценки диаметра отпечатка при измерении твердости (правый рисунок).

Данное решение, может быть применено на стандартных твердомерах Qness и в спецрешениях Qness, если используется только один метод HBW 10/3000.